雜散光（光暈）文件頁面
介紹： 雜散光測試與歸一化雜散光簡介|Imatest 雜散光分析輸出|歷史記錄
背景： 雜散光範例|根本原因|測試概述|測試因素|測試注意事項|術語表
計算： 度量影像|歸一化方法|光源遮罩方法|總結指標|分析通道|飽和度
說明： Imatest 進階分析說明（主控和 IT） |使用 Imatest 計算歸一化雜散光|電動雲台說明
設定： 設定清單和 INI 鍵/值|標準和建議|設定檔輸入
26.1
掩蔽/源檢測
分析通路
- 增加了分析單一顏色通道的功能
25.2
計算
- 增加了對分析影像進行降採樣的功能
均一化
- 直接參考影像：增加了從多個參考影像中平均歸一化因子的功能。
- 蘭伯特參考影像：增加了對多個參考影像的歸一化因子進行平均的功能
掩蔽/源檢測
顏色映射度量圖像/直方圖
- 增加了為顏色映射度量圖像輸出選擇顏色映射的功能
- 增加了反轉顏色映射度量影像輸出的顏色映射的功能
- 增加了在顏色映射的度量影像輸出中切換粉紅色蒙版疊加層的選項
- 顯著提高了視訊/幀寫入速度（與顏色映射度量圖像和直方圖輸出相關）
- 改進了顏色映射度量圖像和直方圖輸出的視覺外觀和渲染一致性
設定
- 更新 INI 語法（重大變更）
25.1
元資料歸屬
掩蔽/源檢測
- 增加了透過焦距比計算掩模半徑的功能
- 增加了從多個連接組件中選擇最小組件的功能
計算
- 增加了為亮度通道選擇自訂權重的功能
結果
- 新增 XML 作為結果類型
- 利用新的結果產生引擎，產生結果文件。
命名法
- 將參考影像的「掩膜」重新命名為「來源偵測」。
24.2
可用性
計算
- 增加了分析中值通道的功能
結果
- 在結果檔案中新增影像處理遮罩的退出條件指示。
設定
- （僅限 Imatest Master）重新組織設定介面，並在儲存時新增錯誤設定提示。
- 更新 INI 語法（重大變更）
繪製
- 增加了設定直方圖/視訊y軸上限的功能
棄用
24.1
計算
設定介面
- （僅限 Imatest Master）隱藏基於上游設定未使用的繪圖、映像和視訊設置
未來變化
23.2
相關標準
- 新增對IEEE-P2020 預發布版耀斑衰減的支持
均一化
計算
- 增加了選擇分析通道的功能
- 增加了選擇雜散光資料變換方式（對數、dB 等）的功能
- 增加了減去暗層的功能
- 在結果文件中加入最小可測量雜散光
- 新增了以像素百分比形式表示計數圖/指標的功能。
- 增強了彩色映射度量影像中掩膜像素的視覺分離效果
命名法
- 將「參考影像」歸一化重新命名為「直接參考影像」。
- 將「兩遍圓半徑」遮罩重新命名為「影像處理+圓（半徑） 」。
其他
- 增加了從 INI 檔案重新載入設定的功能。
未來變化
23.1
掩蔽/檢測
- 為參考影像和測試影像分別設定遮罩。
- 增加了使用影像處理掩蔽方法的功能
- 增加了不使用遮罩的功能（僅限測試影像）
- 為基於影像處理的光源掩蔽方法添加最小雜散光閾值，以改善光源位於視場外時的掩蔽效果。
- 增加了使用 Otsu 方法確定影像處理掩蔽光源閾值的功能
均一化
分析
- 新增計數結果：雜散光比使用者設定的閾值更嚴重的像素數量
命名法
結果
- 在 CSV 輸出中加入製表符（額外的逗號）以分隔各個部分
22.2
- 初始雜散光供應