산란광 테스트 요소 — Imatest Documentation

산란광(플레어) 관련 문서 페이지

페이지 내용

이 페이지는 산란광 테스트 요소 목록을 제공합니다.

소개

산란광 측정은 검증해야 할 요소가 많다는 점에서 고차원적인 문제입니다.

포괄적인 테스트 계획에는 이러한 모든 영역에 대한 테스트 범위가 포함될 것입니다. 실제로, 이러한 테스트 중 일부는 해당 영역 내에서 샘플링하는 대신 제한된 샘플링(예: 광대역 광원을 사용한 테스트)을 사용할 것입니다.

산란광을 측정할 수 있는 요소

광원 각도

광원 각도는 광원에서 나오는 광선 다발이 측정 대상 장치(DUT)를 기준으로 이루는 각도를 나타냅니다. 광원 각도는 필드 각도와 방위각이라는 두 가지 매개변수로 표현할 수 있습니다.

음원 각도에 대한 테스트 범위는 다음을 통해 얻을 수 있습니다.

광원을 고정하고 카메라를 회전시킵니다.
카메라를 고정하고 광원을 회전시킵니다.
다양한 광원을 사용하여
확장된 광원을 사용하여
위의 조합

참고: 광원이 시야각 내부와 외부에 모두 있을 경우 산란광이 발생할 수 있습니다. 종합적인 테스트에는 시야각 내부와 외부 모두에서 샘플을 포함해야 합니다.

참고: 산란광은 방사형 대칭이 아닐 수 있습니다. 종합적인 테스트에는 방위각과 시야각 모두에 대한 스캔이 포함되어야 합니다.

DUT와의 번들 교차

광선 다발과 DUT의 교차점은 광선 다발이 DUT와 만나는 공간적 위치를 나타냅니다. 광선 다발 교차점은 x축 및 y축 중심 이탈 값이라는 두 가지 매개변수로 설명할 수 있습니다.

참고: 많은 산란광 테스트 장비는 전면 렌즈를 과도하게 채워 이러한 조건에 대한 정보를 얻을 수 없게 만듭니다.

번들 교차 영역에 대한 테스트 커버리지는 다음 방법을 통해 얻을 수 있습니다.

전면 요소에 과도한 충전
광원에서 나오는 광선 다발에 대해 카메라를 상대적으로 이동시킵니다.
빔 크기가 변하도록 시험 장비의 조리개를 조정합니다.
위의 조합

이미지 좌표

이미지 좌표는 산란광이 샘플링되는 위치를 나타냅니다. 이는 픽셀 단위로 또는 이미지 전체에 대한 요약 통계로 나타낼 수 있습니다. 이미지 좌표는 x축과 y축 픽셀 위치라는 두 가지 매개변수로 표현할 수 있습니다.

이미지 좌표에 대한 테스트 범위는 다음을 통해 얻을 수 있습니다.

픽셀 단위 측정 수행
관심 영역(ROI)에 대한 요약 통계 계산
이미지 전체에 대한 요약 통계 계산
위의 조합

소스 파장

산란광은 파장에 따라 달라질 수 있는데, 특정 파장에서 산란광이 더 많이 발생하는 경향이 있습니다(예: 꽃잎의 플레어 현상은 주로 붉은색을 띱니다). 굴절, 회절, 박막 필터, 색 필터 어레이 등을 포함하는 산란광 경로는 파장에 따라 달라질 가능성이 더 높습니다. 광원의 파장 의존성은 스펙트럼 곡선이나 CIE 광원(적절한 경우)으로 나타낼 수 있습니다.

소스 파장에 대한 테스트 범위는 다음을 통해 얻을 수 있습니다.

광대역 조명을 이용한 테스트
스펙트럼 대역이 제한된 일련의 소스를 사용한 테스트
좁은 스펙트럼 대역 소스를 이용한 테스트
위의 조합

분석 채널

산란광 반응은 분석 채널(예: 빨강, 초록, 파랑, 휘도 등)에 따라 다를 수 있습니다. 예를 들어, 꽃잎의 번짐 현상은 일반적으로 붉은색으로 나타납니다.

참고: 광원 파장은 조명에서 산란광의 스펙트럼 변동성을 나타내고, 분석 채널은 카메라 응답에서 산란광의 스펙트럼 변동성을 나타냅니다.

분석 채널에 대한 테스트 범위는 다음을 통해 확보할 수 있습니다.

각 채널 분석
평균 채널 분석
휘도 채널을 분석합니다. 휘도 정의는 여러 가지가 있을 수 있다는 점에 유의하십시오.
카메라 채널 변환을 이용한 분석 (예: L*a*b* 공간에서 산란광 분석 수행)

극성 상태

빛의 편광 상태는 산란광의 양에 영향을 미칠 수 있습니다. 특히, DUT의 광학계를 통과하는 산란광 경로에 브루스터 각 보다 큰 각도로 반사되는 표면이 포함될 경우 이러한 영향이 두드러집니다. 편광 상태는 스토크스 벡터 의 세 가지 편광 성분으로 설명할 수 있습니다.

참고: 대부분의 산란광 테스트 설정은 무작위 편광(흔히 비편광광이라고 함)된 빛을 사용하여 테스트합니다.

편광 상태에 대한 테스트 범위는 다음을 통해 얻을 수 있습니다.

무작위로 편광된(비편광된) 빛을 이용한 테스트
다양한 편광(선형, 구형, 타원형)을 이용한 테스트
위의 조합

소스 레벨

산란광의 발생량은 광원의 크기(예: 휘도, 조도, 복사조도 등)에 비례합니다. 광원의 크기는 해당 광원에 적합한 방사량 또는 광도 값(예: 조도, 복사휘도, 룩스 등)으로 나타낼 수 있습니다.

참고: 1차 근사에서, 광원 레벨을 정규화하는 산란광 측정에서는 광원 레벨이 중요하지 않습니다. 하지만 광원과 산란광 특성이 DUT의 동적 범위에 비해 "멀리 떨어져" 있을 경우에는 이러한 1차 근사 가정이 성립하지 않습니다.

참고: 카메라의 조도 수준은 테스트 환경의 조도 수준을 설명하는 데에도 사용될 수 있습니다.

파장에 따른 테스트 범위는 다음을 통해 얻을 수 있습니다.

고정된 조도 수준에서 테스트 (참고: 일부 정규화 방법은 기준 및 데이터 캡처 시 광원의 조도가 달라야 할 수 있습니다.)
다양한 조도에서 테스트
위의 조합

기타 요인

산란광 측정에 영향을 줄 수 있는 다른 요인들은 다음과 같습니다.

DUT 설정(초점, 초점 거리, 조리개)
DUT 온도
DUT 제조 공차