Imatest 의 플랫필드 분석은 평면 이미지의 불균일성을 측정하는 데 사용할 수 있으며, 여기에는 다음이 포함됩니다.
먼지 입자
핫픽셀 또는 데드픽셀
조도 저하(예: 렌즈 비네팅)
렌즈 없이 센서 표면 의 먼지 입자를 분석할 때, 조명의 기하학적 구조는 매우 중요합니다. 이는 빛이 센서 표면과 상호 작용하는 방식에 영향을 미치고, 미세 입자의 가시성에도 영향을 줄 수 있기 때문입니다. 평행광(예: Imatest Stray Light LED Source ) 또는 확산광(예: Imatest LED Lightbox ) 중 어떤 빛을 선택하느냐에 따라 결과에 상당한 차이가 발생할 수 있습니다.
확산광
산란광은 빛의 산란 특성 때문에 센서 표면의 작은 입자를 드러내지 못할 수 있습니다. 그러나 핫픽셀이나 기타 일반적인 불균일성을 식별하는 데는 여전히 효과적입니다.
평행광
평행광은 센서 표면의 먼지 입자를 감지하는 데 특히 유용합니다. 방향성 조명으로 인해 먼지가 그림자를 드리우므로 아주 작은 입자까지도 감지할 수 있습니다.
평행광원을 이용해 촬영한 이미지는 센서에 먼지가 미치는 영향을 보여줍니다. 먼지 입자는 눈에 보이는 회절 패턴을 생성하고, 입자가 클수록 뚜렷한 그림자를 만듭니다. 감지 가능한 최소 먼지 크기는 먼지와 센서 사이의 거리(즉, 보호 유리층의 두께)뿐만 아니라 센서의 설계 및 감도와 같은 다른 요소에 따라 달라집니다.
Imatest Flatfield 잡티 분석
Imatest 의 플랫필드 분석은 평행광원의 이미지에서 아티팩트를 감지하는 데 사용할 수 있습니다. 결함 감지 설정은 특정 필터링 및 임계값 설정을 제어할 수 있도록 해주며, 이를 조정하여 먼지로 인한 아티팩트를 식별하고 분리할 수 있습니다. 감지된 결함의 개수, 위치 및 크기는 Imatest의 표준 출력 파일(CSV, JSON)에 포함됩니다.
