Imatest中的平面场分析可用于测量平面图像中的不均匀性，包括：
尘埃颗粒
热像素或死像素
光照衰减（例如，镜头渐晕）
当尝试分析裸露传感器（无镜头）上的灰尘颗粒时，照明几何形状至关重要，因为它会影响光线与传感器表面的相互作用，并可能影响较小颗粒的可见性。选择准直光（例如，来自Imatest 杂散光 LED 光源）或漫射光（例如，来自Imatest LED 灯箱）会对结果产生显著影响。
漫射光
由于漫射光的散射特性，它可能无法在裸露的传感器上显现出较小的颗粒。然而，它仍然能够有效地识别热像素和其他一般的不均匀性。
准直光
准直光对于检测裸露传感器上的灰尘颗粒尤为有效。这种定向照明会使灰尘投射出可见的阴影，从而即使是更小的颗粒也能被检测到。
使用准直光源拍摄的图像可以揭示灰尘对传感器的影响，因为灰尘颗粒会产生可见的衍射图案，较大的颗粒还会产生明显的阴影。可检测的最小灰尘尺寸取决于灰尘与传感器之间的距离（即保护玻璃层的厚度），以及传感器设计和灵敏度的其他方面。
Imatest Flatfield 瑕疵分析
Imatest中的平场分析可用于检测准直光源图像中的伪影。 瑕疵检测设置可控制某些滤波和阈值处理，从而可以进行调整以识别和分离灰尘引起的伪影。检测到的瑕疵数量、位置和大小均包含在 Imatest 的标准输出文件（CSV、JSON）中。
