Imatest中的平面場分析可用於測量平面圖像中的不均勻性，包括：
塵埃顆粒
熱像素或死像素
光線衰減（例如，鏡頭漸暈）
當嘗試分析裸露感測器（無鏡頭）上的灰塵顆粒時，照明幾何形狀至關重要，因為它會影響光線與感測器表面的相互作用，並可能影響較小顆粒的可見性。選擇準直光（例如，來自Imatest 雜散光 LED 光源）或漫射光（例如，來自Imatest LED 燈箱）會對結果產生顯著影響。
漫射光
由於漫射光的散射特性，它可能無法在裸露的感測器上顯現出較小的顆粒。然而，它仍然能夠有效地識別熱像素和其他一般的不均勻性。
準直光
準直光對於偵測裸露感測器上的灰塵顆粒特別有效。這種定向照明會使灰塵投射出可見的陰影，從而即使是更小的顆粒也能被檢測到。
使用準直光源拍攝的影像可以揭示灰塵對感測器的影響，因為灰塵顆粒會產生可見的衍射圖案，較大的顆粒也會產生明顯的陰影。可偵測的最小灰塵尺寸取決於灰塵與感測器之間的距離（即保護玻璃層的厚度），以及感測器設計和靈敏度的其他方面。
Imatest Flatfield 瑕疵分析
Imatest中的平場分析可用於偵測準直光源影像中的偽影。 瑕疵檢測設定可控制某些濾波和閾值處理，從而可以進行調整以識別和分離灰塵引起的偽影。偵測到的瑕疵數量、位置和大小均包含在 Imatest 的標準輸出檔（CSV、JSON）中。
