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快速概要
平場測量用於測量鏡頭漸暈（光線衰減）和其他影像不均勻性。例如，它可以測量閃光燈照明的均勻性（使用從白牆反射的光線）或平板掃描器的均勻性。在 Imatest 中，平場測量 還可以分析顏色陰影（不均勻性）、熱像素和壞像素以及瑕疵；還可以顯示像素級直方圖、網格（扇形）圖以及精細不均勻性（即感測器雜訊）的詳細影像。
平場測量用於測量鏡頭漸暈（光線衰減）和其他影像不均勻性。例如，它可以測量閃光燈照明的均勻性（使用從白牆反射的光線）或平板掃描器的均勻性。在 Imatest 中，平場測量 還可以分析顏色陰影（不均勻性）、熱像素和壞像素以及瑕疵；還可以顯示像素級直方圖、網格（扇形）圖以及精細不均勻性（即感測器雜訊）的詳細影像。