在测量均匀性时,为了最大限度地减少具有更宽视场镜头的成像系统中的余弦衰减,使用能够在整个视场范围内产生均匀照明的光源至关重要。以下列出的设备可用于生成符合成像系统光谱要求和视场的均匀图像:
视野 | 视觉和/或窄带 | 宽光谱可见光+红外/短波红外 |
<= (80°,~110°) | ||
≤ 180° | ||
≤230° | ||
≤ 300° |
在测量均匀性时,为了最大限度地减少具有更宽视场镜头的成像系统中的余弦衰减,使用能够在整个视场范围内产生均匀照明的光源至关重要。以下列出的设备可用于生成符合成像系统光谱要求和视场的均匀图像:
视野 | 视觉和/或窄带 | 宽光谱可见光+红外/短波红外 |
<= (80°,~110°) | ||
≤ 180° | ||
≤230° | ||
≤ 300° |