测量镜头渐晕和传感器不均匀性
平面场测量功能用于测量镜头渐晕（图像边缘亮度下降）和其他图像不均匀性。例如，它可以测量闪光灯照明的均匀性（使用从白墙反射的光线）或平板扫描仪的均匀性。在Imatest中，平面场测量功能还可以分析颜色阴影（不均匀性）、热像素和坏像素，显示像素级直方图、网格（扇形）图以及精细不均匀性（例如传感器噪声）的详细图像。这些功能在“使用平面场测量功能，第 2 部分”中有详细介绍。
Flat Field Interactive是 Flatfield 的交互式版本。当您想要详细检查图像时，可以使用它。
Imatest 2020.2 包含对EMVA-1288 标准（时间噪声和空间不均匀性）的部分支持。更多详情。
相关页面
|
平场应用（第一部分） |平场应用（第二部分） |平场交互式应用| 时间噪声 |
本页介绍Imatest Master的“平场” （原名“均匀性” ）功能。 “平场”功能最初用于测量镜头渐晕（图像边缘亮度衰减），但现已增强，可用于测量各种图像不均匀性——这些不均匀性可能由镜头、照明或传感器引起——包括色彩阴影、噪声分布和灰尘斑点（尽管“瑕疵检测”功能在处理可见斑点方面表现更佳）。基本操作说明请参见“使用平场，第 1 部分” 。