測量鏡頭漸暈和感光元件不均勻性
平面場測量功能用於測量鏡頭漸暈（影像邊緣亮度下降）和其他影像不均勻性。例如，它可以測量閃光燈照明的均勻性（使用從白牆反射的光線）或平板掃描器的均勻性。在Imatest中，平面場測量功能還可以分析顏色陰影（不均勻性）、熱像素和壞像素，顯示像素級直方圖、網格（扇形）圖以及精細不均勻性（例如感測器雜訊）的詳細影像。這些功能在「使用平面場測量功能，第 2 部分」中有詳細介紹。
Flat Field Interactive是 Flatfield 的互動版本。當您想要詳細檢查圖像時，可以使用它。
Imatest 2020.2 包含EMVA-1288 標準（時間雜訊和空間不均勻性）的部分支援。更多詳情。
相關頁面
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本頁介紹Imatest Master的「平場」 （原名「均勻性」 ）功能。 「平場」功能最初用於測量鏡頭漸暈（影像邊緣亮度衰減），但現已增強，可用於測量各種影像不均勻性——這些不均勻性可能由鏡頭、照明或感測器引起——包括色彩陰影、雜訊分佈和灰塵斑點（儘管「瑕疵偵測」功能在處理可見斑點方面表現更佳）。基本操作說明請參閱「使用平場，第 1 部分」 。