경사진 모서리 해상도 분석 4부: 기타 결과

톤 응답 및 감마 표시

eSFR ISO 및 SFRreg 센터 차트

색상 및 밝기 균일성 프로필

균일성 프로파일

SFR플러스와 체커보드

이 표시 방식은 광량 감소(Light Falloff) 의 프로파일 플롯과 여러 면에서 유사합니다. 이 표시 방식은 광 영역의 프로파일(정사각형 사이의 직사각형 영역들의 평균값)로 구성됩니다. 이미지의 상단, 중간, 하단의 좌우 프로파일은 표시 방식의 왼쪽에, 이미지의 좌측, 중앙, 우측의 상하 프로파일은 표시 방식의 오른쪽에 나타납니다. 다음과 같은 표시 옵션을 사용할 수 있습니다.

R, G, B, Y는 정규화되지 않았습니다(최대값 = 1).

R, G, B, Y 값을 정규화했습니다(최대값 = 1).

R, G, B, Y는 정규화되지 않았습니다(최대값 = 255).

R/G(빨간색) 및 B/G(파란색) 정규화되지 않음

R/G(빨간색) 및 B/G(파란색) 정규화(최대값 = 1)

Delta-L* (회색), a* (R), b* (B), 크로마 c* (G)

이 디스플레이에서 최상의 결과를 얻으려면 Imatest 테스트 랩 의 기술을 사용하여 대상에 균일하게 조명을 비추도록 최선을 다해야 합니다. 밝기 관련 결과(R, G, B, Y 및 Delta-L*)는 광량 감소 측정만큼 정확하게 측정할 수는 없습니다. 광량 감소 측정에서는 오팔 확산 유리를 통해 촬영한 깨끗하고 균일한 이미지 영역을 사용하는 것이 권장되기 때문입니다. 하지만 이러한 결과도 여전히 유용하게 활용될 수 있습니다. 특히 색상 비율(R/G 등)은 색상 응답이 고르지 않은지 진단하는 데 도움이 됩니다.

이미지, 기하학, 왜곡, 시야각

모든 모듈

이미지, 기하학, 왜곡, 시야각 표시

이 디스플레이를 통해 이미지의 여러 측면을 자세히 볼 수 있습니다. MTF/노이즈 분석을 위해 선택된 영역(보라색 사각형), SFRplus에서 균일도 프로파일을 생성하는 데 사용되는 노란색 사각형, 그리고 SFRplus에서 왜곡을 측정하는 데 사용되는 빨간색 가로 곡선이 표시됩니다. 디스플레이 옵션은 다음과 같습니다.

이미지 아래에는 여러 가지 기하학적 결과가 표시되어 있습니다.

왜곡 통계는 SFRplus 왜곡 및 시야각 측정 에서 자세히 설명되어 있습니다. Rescharts 창 오른쪽 하단의 표시 영역에 있는 확인란을 사용하여 왜곡 보정된 이미지를 볼 수 있습니다.

• 이미지의 가로 x 세로 크기(픽셀 단위); 발견된 정사각형의 최대 x 개수; ROI 크기(입력 설정 참조), MTF 계산을 위한 ROI 개수 등 (프로필에는 적용되지 않음)

• SMIA TV 왜곡률 은 왜곡을 측정하는 가장 간단한 전체 척도입니다. 핀쿠션 왜곡이 있는 경우 양수 값을, 배럴 왜곡이 있는 경우 음수 값을 나타냅니다.
• 3차 왜곡 계수 k₁ ⋅ r _u = r _d + _{k₁r d₃} ⁼ 여기서 r _u 는 왜곡되지 않은 반지름이고 r _d 는 왜곡된 반지름입니다. r은 중심에서 모서리까지의 거리로 정규화됩니다. 배럴 왜곡의 경우 _k₁ > 0이고 핀쿠션 왜곡의 경우 _k₁ < 0입니다.
• 5차 왜곡 계수 h 1 및 h 2  r _u = r _d + h ₁ r _d ³ + h ₂ r _d ⁵ h ₁ 과 부호가 다른 상대적으로 큰 h ₂ 값은 반지름이 증가함에 따라 배럴형에서 핀쿠션형으로(또는 그 반대로) 변형이 주로 나타나는 "파형" 또는 "콧수염형" 변형을 나타낼 수 있습니다.
• 아크탄젠트/탄젠트 왜곡 계수 도 계산되어 CSV 출력 파일에 포함됩니다.
• 시야각(FoV) 은 선택된 왜곡 계산 또는 세 가지 계산(3차, 5차, arctan/tan, 즉 최적화 오류가 가장 적은 계산) 중 최적의 값을 사용하여 계산됩니다.
• 이미지 중심을 기준으로 가운데 정사각형 중심의 x,y 좌표입니다 .
• 패턴의 평균 회전 각도(0보다 큰 경우 시계 방향)
• 막대 사이의 세로 높이를 이미지 높이에 대한 비율로 나타낸 것이며, 단위는 픽셀입니다.
• 수렴각 (도). 이는 카메라가 피사체를 직접 향하지 않거나 정렬이 어긋났을 때 발생하는 원근 왜곡(키스톤 왜곡)의 결과입니다. 수평 수렴각( 요각 과 관련됨)은 아래 그림과 같습니다. 수평 막대를 위쪽과 아래쪽으로 외삽하여 계산합니다. 아래 그림에서 위쪽과 아래쪽의 빨간색 실선 쌍은 평행합니다(페이지에 이미지를 맞추기 위해).

완벽한 정렬은 x, y 좌표, 회전, 그리고 H, V 수렴각이 모두 0인 상태입니다. 정렬을 용이하게 하기 위해 SFRplus 이미지의 위쪽과 아래쪽 흰색 여백에 표시를 추가할 수 있습니다. 수직 수렴각은 가장 왼쪽 사각형의 오른쪽 변과 가장 오른쪽 사각형의 왼쪽 변을 연결하는 선(위 그림에서 파란색 점선 으로 표시됨)을 통해 계산됩니다. 어안 렌즈(심한 배럴 왜곡이 있는 렌즈)를 사용하는 경우, 수렴각 측정이 의미 있으려면 차트가 정확히 중앙에 위치해야 합니다.
기호 규칙
수평 수렴각 : 양의 각도는 왼쪽에 소용돌이가 생기는 것을 의미하며, 즉 차트 이미지가 오른쪽에서 더 넓게 나타납니다.
수직 수렴각 : 양의 각도는 상단에 소용돌이가 생기는 것을 의미하며, 즉 차트 이미지의 하단이 더 넓어 보입니다.

• 막대 차트 높이(cm) , 렌즈와 차트 사이의 거리(cm ), 픽셀 간격(피치) 이 입력되면 측정된 렌즈의 초점 거리가 표시됩니다. 계산된 경우 CSV 출력 파일에 기록됩니다. 공식: 배율 M 은 막대 차트 높이(센서 기준) / 막대 차트 높이입니다. 렌즈와 차트 사이의 거리 f₁ _에 대해 렌즈와 센서 사이의 거리 f₂ = _{f₁M 입니다} . 얇은 렌즈 공식을 사용하면 초점 거리 f = 1 / (1 _/ f₁ + 1/ f₂ ₎ 입니다 .
• 시야각(FoV) 계산에는 왜곡 효과가 포함됩니다(체커보드 또는 SFRplus의 경우 3가지 모델 중 가장 좋은 모델이 기본값으로 사용됩니다). 차트 중앙의 막대 간 수직 거리를 입력하면 시야각이 센티미터(cm) 단위로 표시됩니다. 렌즈와 차트 사이의 거리를 센티미터 단위로 입력하면 시야각이 도(°) 단위로 표시됩니다.

'ROI로 자르기'(또는 'ROI의 절반으로 자르기')를 클릭하면 특히 흥미로운 화면을 볼 수 있습니다. ROI가 충분히 크게 표시되어 흐림 효과가 명확하게 보이고, 이를 에지 곡선, MTF 플롯 및 요약 결과와 비교할 수 있습니다.

예시: 선과 화살표가 있는 심하게 왜곡된 체스판 이미지

원본 이미지와 보정된 이미지 간의 관계는 '추가 설정' 창의 ' 표시 옵션 ' 영역에서 '화살표 및 선 표시'를 선택하면 (체커보드 형식으로만) 표시됩니다. 원본 이미지(아래 왼쪽)의 선은 계산된 계수가 왜곡을 얼마나 잘 보정하는지 시각적으로 잘 보여줍니다.

화살표가 있는 왜곡된 이미지: 보정 전과 보정 후. 이미지를 클릭하면 크게 볼 수 있습니다.

원본 이미지

수정된 이미지

보정된 이미지의 확대율은 Rescharts 표시 영역의 왼쪽 하단에 있는 슬라이더로 조정할 수 있습니다.

방사 왜곡 플롯

방사 왜곡 플롯은 이미지, 기하학, 왜곡, 시야각(FoV) 표시 결과에 상당한 세부 정보를 추가합니다. 이 플롯은 1. 델타-r , 2. 렌즈 기하 왜곡(LGD) , 3. 왜곡되지 않은 r( ru ₎ , 또는 d (LGD)/ d ( ru ) _의 네 가지 표시 옵션을 제공합니다. 아래 그림은 LGD를 보여줍니다.

그래프에는 다음이 포함됩니다.

1. 반지름의 변화 Δr (중심에서 모서리까지의 거리, 즉 대각선의 절반으로 정규화됨)은 왜곡된(입력) 반지름 _rd 의 함수입니다.
   Δ r = r (비왜곡) – r (왜곡) = r _d – r _u
2. 렌즈 기하 왜곡(LGD) 은 CPIQ 2단계 사양에 포함되어 있으며, 광학 왜곡( Edmund Optics에서 정의) 과 동일합니다.
   LGD = 100% ( r _d – r _u )/ r _u
3. 왜곡되지 않은 반경 , r _u
4. 곡률 d (LGD)/ d ( ru ). 이 곡률(Imatest 5.0에 새로 추가됨)은 왜곡으로 인한 시각적 저하를 판단하는 데 유용할 수 있으며, 이는 최대-최소값에 비례할 가능성이 높습니다. 5차 다항식 _의 부호 변화(항상 계산되는 것은 아님)보다 부호 변화가 콧수염(파형) 왜곡을 더 잘 나타내는 지표일 수 있습니다.

실선은 보정 공식 r _u = r _d + k ₁ r _d ³ (3차; 파란색 ), r _u = r _d + h ₁ r _d ³ + h ₂ r _d ⁵ (5차; 녹색 ), 또는 arctan/tan 방정식 ( 빨간색 )에 대한 결과를 나타냅니다. 최적의 적합(이 경우 5차)은 굵게 표시되어 있습니다. 이러한 방정식을 사용하면 |Δ r| 은 종종 r 의 함수로 증가(왜곡)하며, 즉 이미지 모서리 근처에서 가장 커지는 경향이 있습니다. 선택된 값(또는 오차 err이 가장 작은 값)은 굵게 표시되어 있습니다.

방사형 도표는 Distortion: Methods and Modules 에서 여러 Imatest 왜곡 모듈의 결과를 비교하는 데 사용됩니다.

다중 쐐기형 플롯 eSFR ISO 전용

멀티 웨지 플롯은 모든 웨지에 대한 결과 요약을 보여줍니다. 이는 경사진 에지에 대한 멀티 ROI(에지) 요약 플롯과 정확히 동일한 형태입니다.

위의 Rescharts 창에 표시된 다중 ROI(다중 관심 영역) 요약에는 eSFR ISO 웨지 결과 요약이 포함되어 있습니다. 왼쪽 상단에는 은은한 회색조 이미지가 표시되며, 선택된 고주파 웨지 영역은 빨간색 사각형으로 둘러싸여 최대 대비로 표시됩니다. 주로 저주파 정규화를 위한 저주파 웨지 영역은 파란색 사각형 안에 있습니다. 각 영역 옆에는 최대 4개의 결과 상자가 표시됩니다. 결과는 오른쪽의 표시 선택 영역 아래에 있는 표시 옵션 영역에서 선택할 수 있습니다. 이미지 아래에는 범례가 있습니다.

별칭 시작, MTF50, MTF20
별칭 시작, MTF50, 최소(MTF10,별칭,Nyq)
별칭 시작, MTF50P, MTF20_
별칭 시작, 보조 rdouts 1,2
세 가지 보조 판독값 모두

결과 선택

보기 선택